MOST CITED
Update: 2019-11-17
Visits since 2016.06.29:
darmowe liczniki
Task „Implementation of procedures ensuring the originality of scientific papers published in the quarterly „Eksploatacja i Niezawodność – Maintenance and Reliability” financed under contract 532/P-DUN/2018 from the funds of the Minister of Science and Higher Education for science dissemination activities.
Shengkui ZENG
Zmodyfikowany model prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych
Prognozowanie niezawodności urządzeń elektronicznych oparte na modelu fizyki uszkodzeń (PoF) jest obarczone niepewnościami. Opierając się na połączeniu testu Kołmogorowa-Smirnowa (testu K-S) i metody symulacji Monte Carlo, w niniejszej pracy zaprezentowano zmodyfikowaną metodę prognozowania niezawodności urządzeń elektronicznych, która bierze pod uwagę ograniczoną liczbę danych testowych o uszkodzeniach. Ilościową charakterystykę głównych czynników niepewności modelu stworzono na podstawie wskaźnika zdolności procesu (Cpk). W pierwszej części pracy badano stopień dopasowania pomiędzy teoretycznym rozkładem podobieństwa uszkodzeń urządzeń elektronicznych obliczanym w oparciu o PoF przy użyciu metody symulacji Monte-Carlo a empirycznym rozkładem podobieństwa uszkodzeń urządzeń elektronicznych uzyskanym na podstawie testowych lub terenowych danych o uszkodzeniach przy życiu metody K-S. W części drugiej, dokonano optymalizacji skorygowanego współczynnika modelu. Wreszcie, na podstawie przykładu modelu oceny termicznej wytrzymałości zmęczeniowej połączenia lutowanego oraz wybranych danych testowych o uszkodzeniach dokonano weryfikacji proponowanej metody. Wyniki prognoz uzyskane na podstawie zmodyfikowanego modelu są zgodne z wynikami testowymi.
A modified model of electronic device reliability prediction
There exist uncertainties in the prediction of electronic device reliability based on PoF (physics of failure) model. Based on the combination of Kolmogorov-Smirnov test (KS-test) and Monte-Carlo simulation method, this paper presents a modified method for reliability prediction of electronic devices considering limited test failure data. The process capability index (Cpk) is used to quantitatively characterize the main factors of model uncertainties. Firstly the degree of fitting between the theoretical probability distribution of electronic device failures based on PoF by using the Monte-Carlo simulation method and the practical probability distribution of electronic device failures based on test or field failure data is tested by using K-S test method. Secondly the corrected coefficient of the model is optimized. Finally, a solder thermal fatigue life assessment model and some test failure data are used to verify the proposed method in the illustrative example. The prediction results calculated by modifi ed model are consistent with test results.
Ontologiczne wielowidokowe modelowanie uszkodzeń wspierające zintegrowany rozwój produktu i procesów
Inżynieria niezawodności zajmuje się prowadzeniem licznych działań w zakresie technologii uszkodzeń i zarządzania uszkodzeniami w ciągu całego cyklu rozwoju produktu. Stopniowa identyfikacja uszkodzeń oraz ciągła poprawa niezawodności jest możliwa tylko wtedy, gdy działania te zostaną skutecznie zintegrowane, przy syntetycznym uwzględnieniu szeregu istotnych danych dotyczących uszkodzeń. Obecna praktyka inżynieryjna nie pozwala na efektywną wymianę i ponowne wykorzystanie danych i wiedzy pochodzących z różnych faz rozwoju produktu. Ciągle jeszcze napotyka się trudności dotyczące interoperacyjności różnych działań ukierunkowanych na utrzymanie niezawodności. W artykule opracowano model ontologii uszkodzeń obejmujący modele ontologii uszkodzeń globalnych, funkcjonalnych i sprzętowych. Za sprawą tego modelu ontologicznego, działania niezawodnościowe stają się spójną częścią zintegrowanego rozwoju produktu i procesów (IPPD). Proponowany model uwzględnia ewolucję wiedzy na temat uszkodzenia w ciągu poszczególnych faz rozwoju. Na podstawie prezentowanego modelu ontologicznego stworzono środowisko inżynierii niezawodności oparte na platformie PLM (Zarządzanie Cyklem Życia Produktu) pozwalające zweryfikować poprawność i możliwość zastosowania omawianego modelu.
Ontological multi-view failure modeling for IPPD
Reliability engineering includes series of failure focused technology and management activities running throughout the entire product development cycle. Only these activities are effectively integrated and numerous relevant failure data is synthetically applied, the intent for progressively identifying failure and continuously improving reliability can be obtained. In current engineering practice, the reliability data and knowledge produced in different development phases cannot be efficiently shared and reused. There still exist difficulties in interoperating between different reliability activities. This paper establishes the failure ontology models that contain global failure ontology model, functional failure ontology model and hardware failure ontology model. In virtue of this ontology model, the reliability activities are seamlessly integrated into the integrated product and process development (IPPD). In this model, the evolution process of failure cognition during each development phases is considered. Base on this ontology model, a reliability engineering environment is constructed with the support of PLM (Product Lifecycle Management) platform to verify the ontology model's correctness and applicability.